CI-110 植物冠层图像分析仪

特 点
测量方法极为简便, 探头可以自动水平
高分辨率的180°视角的鱼眼图像
非破坏性测量叶面积指数（LAI）、叶片平均倾角
（MFLA）和散射辐射透过率
可通过用户选择天顶角划分（环），计算出不同高度的
太阳光线穿过冠层后

的直接辐射透过率及其消光系数
可通过用户选择的方位角划分，测量不同方位的叶片分布
测量各冠层参数按天顶角和方位角的分布
直接使用USB接口与笔记本计算机相连，使得植物冠层
图像的测量和计算速度很快，而且还可以存贮大量的图像
可直接测量植物冠层内外不同位置的光合有效辐射(PAR)